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GB/T 13452.2-2008《色漆和清漆漆膜厚度的测定》仪器配置清单
时间：2021-08-31来源：泰鼎恒业浏览次数：
GB/T 13452.2-2008
色漆和清漆漆膜厚度的测定
Paints and varnishes—Determination of film thickness
湿膜厚度的测定试验仪器设备（机械法-梳规）
湿膜厚度的测定试验仪器设备（机械法-轮规）
湿膜厚度的测定试验仪器设备（机械法-千分表）
湿膜厚度的测定试验仪器设备（重量分析法-质量差值法）
湿膜厚度的测定试验仪器设备（光热法-用热性能测定）
干膜厚度的测定试验仪器设备（机械法-厚度差值法）
干膜厚度的测定试验仪器设备（机械法-深度规）
干膜厚度的测定试验仪器设备（机械法-表面轮廓扫描）
干膜厚度的测定试验仪器设备（重量分析法-质量差值法）
干膜厚度的测定试验仪器设备（光学法-截面法-磨削法）
干膜厚度的测定试验仪器设备（光学法-截面法-切割法）
干膜厚度的测定试验仪器设备（光学法-楔形切割）
干膜厚度的测定试验仪器设备（磁性法-磁吸力脱离测试仪）
干膜厚度的测定试验仪器设备（磁性法-磁通量测试仪）
干膜厚度的测定试验仪器设备（磁性法-诱导磁性测试仪）
干膜厚度的测定试验仪器设备（磁性法-涡流测试仪）
干膜厚度的测定试验仪器设备（辐射法-β反散射法）
干膜厚度的测定试验仪器设备（光热法-用热性能测定）
干膜厚度的测定试验仪器设备（声波法-超声波测厚仪）
未固化粉末涂层厚度的测定试验仪器设备（重量分析法-质量差值法）
未固化粉末涂层厚度的测定试验仪器设备（磁性法-诱导磁性测试仪）
未固化粉末涂层厚度的测定试验仪器设备（磁性法-涡流测试仪）
未固化粉末涂层厚度的测定试验仪器设备（光热法-用热性能测定）
粗糙表面上漆膜厚度的测量
色漆和清漆漆膜厚度的测定
Paints and varnishes—Determination of film thickness
湿膜厚度的测定试验仪器设备（机械法-梳规）
| 产品编号 | 仪器设备 | 建议规格 | 型号说明 | 数量 |
| GB/T 13452.2-S-1A | 梳规 | 由耐腐蚀材料制成的平板，有一系列齿状物排列在其边缘；能测得的最大厚度-般为2 000μm.最小增量一般为5μm | TD 13452.2-S-1A | 1个 |
湿膜厚度的测定试验仪器设备（机械法-轮规）
| 产品编号 | 仪器设备 | 建议规格 | 型号说明 | 数量 |
| GB/T 13452.2-S-1B | 轮规 |
一个轮子构成，该轮子由耐腐蚀的淬火钢制成，轮子上有三个凸起的轮缘； 能测得的最大厚度一般为1 500μm,最小增量一般为2μm |
TD 13452.2-S-1B | 1个 |
湿膜厚度的测定试验仪器设备（机械法-千分表）
| 产品编号 | 仪器设备 | 建议规格 | 型号说明 | 数量 |
| GB/T 13452.2-S-1C-1 | 机械千分表或电子千分表 | 测量精度一般分别为5μm（机械千分表） 和1μm（电子千分表） | TD 13452.2-S-1C-1 | 1个 |
| GB/T 13452.2-1C-2 | 参照板 | 参照板由平整的玻璃板构成，其不平度容限不超过1μm | TD 13452.2-S-1C-2 | 1个 |
| 产品编号 | 仪器设备 | 建议规格 | 型号说明 | 数量 |
| GB/T 13452.2-S-2 | 天平 | 最大称量范围为500 g,精度为1mg | TDTP1004 | 1台 |
湿膜厚度的测定试验仪器设备（光热法-用热性能测定）
| 产品编号 | 仪器设备 | 建议规格 | 型号说明 | 数量 |
| GB/T 13452.2-S-3 | 热辐射源 | 如激光源、发光二极管、白炽光源）主要用作涂层的激励系统 | TD 13452.2-S-3 | 1个 |
干膜厚度的测定试验仪器设备（机械法-厚度差值法）
| 产品编号 | 仪器设备 | 建议规格 | 型号说明 | 数量 |
| GB/T 13452.2-G-4A1 | 测微计/外卡规测微计/螺旋测微器 | 测微计测量时应能精确到5μm。测微计应配有齿杆以限制测量杆对测试表面施加的力 | TD 13452.2-G-4A | 1套 |
| GB/T 13452.2-G-4A2 | 千分表 | 测量精度一般分别为5μm（机械千分表） 和1μm（电子千分表） | TD 13452.2-G-4A2 | 1个 |
干膜厚度的测定试验仪器设备（机械法-深度规）
| 产品编号 | 仪器设备 | 建议规格 | 型号说明 | 数量 |
| GB/T 13452.2-G-4B1 | 深度测微计 | 测微计测量时应能精确到5μm。测微计应配有齿杆以限制测量杆对测试表面施加的力 | TD 13452.2-G-4B1 | 1套 |
| GB/T 13452.2-G-4B2 | 深度千分表 | 测量精度一般分别为5μm（机械千分表） 和1μm（电子千分表） | TD 13452.2-G-4B2 | 1个 |
| GB/T 13452.2-4B3 | 参照板 | 参照板由平整的玻璃板构成，其不平度容限不超过1μm | TD 13452.2-4B3 | 1块 |
干膜厚度的测定试验仪器设备（机械法-表面轮廓扫描）
| 产品编号 | 仪器设备 | 建议规格 | 型号说明 | 数量 |
| GB/T 13452.2-G-4C |
表面轮廓扫描仪 |
该仪器有一个往复移动的触针,触针与合适的具有放大和记录功能的装置相连 | TD 13452.2-G-4C | 1台 |
| 产品编号 | 仪器设备 | 建议规格 | 型号说明 | 数量 |
| GB/T 13452.2-G-5 | 天平 | 最大称量范围为500 g,精度为1mg | TDTP1004 | 1台 |
| 产品编号 | 仪器设备 | 建议规格 | 型号说明 | 数量 |
| GB/T 13452.2-G-6A1a | 磨削、抛光机 | 用于得到金相制品的仪器是合适的 | TD13452.2-G-6A1a | 1台 |
| GB/T 13452.2-G-6A1b | 冷固化树脂 | 嵌入介质 | TD 13452.2-G-6A1b | 根据需要 |
| GB/T 13452.2-G-6A1c | 磨削、抛光介质 | 使用防水砂纸，如标号为280号、400号和600号的砂纸，或合适等级的金刚石浆状物或类似浆状物 | TD 13452.2-G-6A1c | 根据需要 |
| GB/T 13452.2-G-6A1d | 测量显微镜 | 需要一台具有合适光照系统、能给出最佳影像对比度的显微镜；目镜或光电测量装置的测量精度至少为1μm | TD 13452.2-G-6A1d | 1台 |
| 产品编号 | 仪器设备 | 建议规格 | 型号说明 | 数量 |
| GB/T 13452.2-G-6A1a | 切割机 | 要求有一个往复移动式或旋转式检镜用刀，它具有合适几何形状的硬质合金刀片和能把试样夹紧固定的座架 | TD13452.2-G-6A1 | 1台 |
| GB/T 13452.2-G-6A2d | 测量显微镜 | 需要一台具有合适光照系统、能给出最佳影像对比度的显微镜；目镜或光电测量装置的测量精度至少为1μm | TD 13452.2-G-6A2d | 1台 |
干膜厚度的测定试验仪器设备（光学法-楔形切割）
| 产品编号 | 仪器设备 | 建议规格 | 型号说明 | 数量 |
| GB/T 13452.2-G-6B-1 | 切割机 | 切割机是刀具能更换的特殊仪器，能获得规定角度的精密切割 | TD13452.2-G-6B-1 | 1台 |
| GB/T 13452.2-G-6B-2 | 测量显微镜 | 要求显微镜的放大倍数约为50且有光照装置。目镜的测量精度为20μm | TD 13452.2-G-6B-2 | 1台 |
| 产品编号 | 仪器设备 | 建议规格 | 型号说明 | 数量 |
| GB/T 13452.2-G-7A-1 | 磁吸力脱离测试仪 | 仪器含有磁体，根据磁体与底材间的吸引力来测定漆膜厚度 | TD13452.2-G-7A-1 | 1台 |
| 产品编号 | 仪器设备 | 建议规格 | 型号说明 | 数量 |
| GB/T 13452.2-G-7B-1 | 磁吸力脱离测试仪 | 仪器含有磁体，根据由于底材的影响所导致的磁体磁场的改变来测定漆膜厚度，用霍尔探头测量磁场 | TD13452.2-G-7B-1 | 1台 |
干膜厚度的测定试验仪器设备（磁性法-诱导磁性测试仪）
| 产品编号 | 仪器设备 | 建议规格 | 型号说明 | 数量 |
| GB/T 13452.2-G-7C-1 | 诱导磁性测试仪 | 仪器含有电磁体，根据电磁体接近铁磁性底材时磁场的改变来测定漆膜厚度。电磁体会产生低频率（LF,如60 Hz〜400 Hz）交变电磁场 | TD13452.2-G-7C-1 | 1台 |
| 产品编号 | 仪器设备 | 建议规格 | 型号说明 | 数量 |
| GB/T 13452.2-G-7D-1 | 诱导磁性测试仪 | 仪器含有电磁体，根据导电性底材产生的涡流所引起的磁场的改变来测定漆膜厚度。电 磁体会产生高频率（HF,如0. 1 MHz〜30 MHz）交变电磁场 | TD13452.2-G-7D-1 | 1台 |
| 产品编号 | 仪器设备 | 建议规格 | 型号说明 | 数量 |
| GB/T 13452.2-G-8-1 | β反散射仪 | TD13452.2-G-8-1 | 1台 |
| 产品编号 | 仪器设备 | 建议规格 | 型号说明 | 数量 |
| GB/T 13452.2-G-9-1 | 测量系统 | 热辐射源（如激光源、发光二极管、白炽光源）主要用作涂层的激励系统 | TD13452.2-G-9-1 | 1台 |
| 产品编号 | 仪器设备 | 建议规格 | 型号说明 | 数量 |
| GB/T 13452.2-G-10-1 |
超声波测厚仪 |
仪器有超声波发送器和接收器，可根据声音传播时间来测定漆膜厚度 | TD13452.2-G-10-1 | 1台 |
| 产品编号 | 仪器设备 | 建议规格 | 型号说明 | 数量 |
| GB/T 13452.2-F-11-1 | 天平 | 最大称量范围为500 g,精度为1 mg | TD13452.2-F-11-1 | 1台 |
| 产品编号 | 仪器设备 | 建议规格 | 型号说明 | 数量 |
| GB/T 13452.2-F-12A-1 | 诱导磁性测试仪 | 仪器含有电磁体，根据电磁体接近铁磁性底材时磁场的改变来测定漆膜厚度。电磁体会产生低频率（LF,如60 Hz〜400 Hz）交变电磁场 | TD13452.2-F-12A-1 | 1台 |
| 产品编号 | 仪器设备 | 建议规格 | 型号说明 | 数量 |
| GB/T 13452.2-F-12B-1 | 涡流测试仪 | 仪器含有电磁体，根据导电性底材产生的涡流所引起的磁场的改变来测定漆膜厚度。电磁体会产生高频率（HF,如0. 1 MHz〜30 MHz）交变电磁场 | TD13452.2-F-12B-1 | 1台 |
| 产品编号 | 仪器设备 | 建议规格 | 型号说明 | 数量 |
| GB/T 13452.2-F-13-1 | 测量系统 | 热辐射源（如激光源、发光二极管、白炽光源）主要用作涂层的激励系统 | TD13452.2-F-13-1 | 1台 |
粗糙表面上漆膜厚度的测量
| 产品编号 | 仪器设备 | 建议规格 | 型号说明 | 数量 |
| GB/T 13452.2-C-1 | 漆膜厚度测试仪 | 诱导磁性类型的 | TD13452.2-C-1 | 1台 |
| GB/T 13452.2-C-2 | 校验薄片 | 是箔行的，有规定的厚度值 | TD13452.2-C-2 | 1片 |
| GB/T 13452.2-C-3 | 光滑钢板 | 没有轧制铁鳞和锈，磁性和涂漆钢板相似，厚度至少为1.2mm，用于现场校验仪器 | TD13452.2-C-3 | 1块 |
