测量要求
(1) 试件的制备与安装
①　试件应从待测吸声材料或吸声结构中随机取样而得。同一批材料或结构中至少应制备三个试件。
②　试件截面的形状和面积，应与驻波管截面相同。对于较大试件，可用若干相同的单元组合而成。采用试件筒时，也可使用面积大于驻波管截面的薄板状试件，不过这时必须保证试件外侧的严密封闭。典型试件的装置可遵守附录A 试件典型装置的规定。
③　试件的表面应平整。对于松散材料，应有透声的护面装置，其透声面积应占总面积的30%以上。对于尖劈形吸声结构，应在结构顶端取一假想平面作为试件表面。
④　试件应可靠地固定在驻波管内，试件侧面紧贴管壁，但不应受挤压而使它变形。必要时试件的侧面与管壁间的缝隙，应采取适当的密封措施。
⑤　当要求试件具有刚性背面时，试件背面必须平整并与驻波管底板紧贴。底板与驻波管侧壁间应密闭。
⑥　当要求试件背后留有空腔时，应使试件背面和底板间的空气层保持给定的厚度。
(2)测量程序
①进行测量前，应先完成下列准备工作。
a.按驻波管法吸声系数与声阻抗率测量之测量基本设备中各条规定的要求，对驻波管测量设备各部分进行检查。
b.按驻波管法吸声系数与声阻抗率测量之测量范围(2)①至（2)④规定确定测量频率的范围，选取1/3倍频程系列一系列测量频率。如有需要，可加入一些中间频率。
c.作空管测量，测出空管驻波比，按驻波管法吸声系数与声阻抗率测量之测量范围(1)①或驻波管法吸声系数与声阻抗率测量之测量范围(2)②的规定确定可正常测量的最低吸声系数。
d.按照附录B探测器声学中心的相对位置的方法，确定探测器的起始位置。
e.按本小节(1)①条至（1)⑥的规定，制备并安装待测试件。
②测量试件的吸声系数，应按下列规定进行。
a. 探测器移到声压极大处时，应调节信号强度，使读数指示满刻度。
b. 当探测器移到声压极小处时，必须待指示稳定在极小值上才能进行读数。
c. 对于给定测量频率，声压极小值应取三次测量平均值。当相应吸声系数值的最大偏差超过0.02时，应增加测量2〜3次，然后取平均。在一般情况下，平均值宜取两位小数，当吸声系数大于0.96时，可取三位小数。
d. 对于较高频率，声压第一极小值与第二、第三极小值可能有所不同，管道衰减引起极小值的变化，可按附录E管道衰减引起极小值的变化的方法进行修正。
③测量试件法向声阻抗率，应按下列规定进行。
a. 按本小节(2)②的规定，测量试件的吸声系数或其相应的驻波比。
b. 探测器移到声压第一极小处时，读取试件表面至声压第一极小间距离。对于给定测量频率，距离读数应取三次测量平均值。当读数最大偏差与波长相比较超过1%时，应增加测量2〜3 次，然后取平均值。
c. 按驻波管法吸声系数与声阻抗率测量之测量方法(1)④和（1)⑤的规定，确定半波长，然后按驻波管法吸声系数与声阻抗率测量之测量方法(1)③的规定，求出相位因子。
d. 按本小节(3)⑤的规定，用空气特性阻抗为单位，计算试件的相对法向声阻抗率的模和辐角。
e. 如有需要，可按本小节(3)⑤的规定，计算相对法向声阻率和声抗率。
(3)测量误差
①　测量结果的误差，可采用所得平均值的标准偏差表达。
②　按本小节(2)②的规定，测量试件吸声系数的误差不应大于0.01。
③　按本小节(2)③的规定，测量试件相位因子的误差不应大于1%。
④　按本小节(2)③的规定，测量试件相对法向声阻抗率模的相对误差，可由下式计算：
                (25-2-32)
       
式中ε_ξ——相对法向声阻抗率模的相对误差；
      σ_a——吸声系数a的测量误差；
      σ_b——相位因子b的测量误差。
⑤按本小节(2)③的规定，测量试件法向声阻抗率辐角的测量误差，可由下式计算：
           (25-2-33)
       
式中ε_Φ——法向声阻抗率辐角的测量误差。
⑥按本小节(3)②至（3)⑤规定的测量误差，一般不应包括吸声材料或吸声结构本身不均匀性所产生的影响。对同一批试件测量所得结果的标准偏差超出上述规定所得的测量误差时，应以各试件实测数据间的标准偏差作为测量结果不确定度的评价。
（4）测量结果的表达
①　测量结果采用表格或曲线的形式给出所有测量频率的实测数据和计算结果。
②　实验报告，一般应包括下列内容：
a. 吸声材料或吸声构件的名称及制造单位；
b. 试件规格（包括几何尺寸、结构及材料容重等）；
c. 试件安装情况；
d. 测量频率及其相应的实测数据和计算结果；
e. 测量时的温度和湿度；
f. 测量日期；
g. 测量单位名称和测量人员姓名。